H35-561-ENU 試験問題を無料オンラインアクセス

試験コード:H35-561-ENU
試験名称:HCIP-LTE-RNP&RNO V1.0
認定資格:Huawei
無料問題数:62
更新日:2025-09-14
評価
100%

問題 1

Which of the following events can be used to trigger inter-frequency switching? (multiple choice)

問題 2

In the LTE system, which of the following criteria is used for cell selection?

問題 3

Which of the following scenarios should use the RIM process? (multiple choice)

問題 4

Which of the following are the functions of the RRC layer? (multiple choice)

問題 5

What are the measurement configuration messages of the E-UTRAN to UTRAN system handover based on coverage? (multiple choice)

コメントを追加

あなたのメールアドレスが公開されることはありません。個人情報に関する内容は隠されます *

insert code
画面にある文字を入力してください。