SAP QM の 8D 方法論は、品質問題によって引き起こされる内部的な問題解決プロセスです。
* 検査ロットの欠陥記録（A）：検査ロットの欠陥記録（例：トランザクションQE51N）は、リンクされた通知（例：Q2）、標準開始点（SPRO）を介して8Dプロセスを開始できます。
> QM > 品質通知 > 8D 方法論)。
* 品質通知の項目 (C): 通知項目 (例: QM01) は、問題 (D1) と後続の手順 (主要なエントリ ポイント) を文書化することで、8D を直接サポートします。
* 欠陥カテゴリの欠陥 一般的な欠陥 (B)：「一般的な欠陥」は標準カテゴリではなく、欠陥の種類は特定です (例: 製造、サプライヤー)。
* 欠陥カテゴリ製造欠陥の欠陥 (D): 関連性はありますが、8D を開始するのはカテゴリだけではなく、記録 (A) または通知 (C) の行為です。
したがって、「検査ロットの欠陥記録」と「品質通知の項目」が正解です。
参考資料: SAP ヘルプ ポータル - 「QM における 8D 方法論」、SAP S/4HANA QM ユーザー ガイド - 「問題解決」。

SAP QM (トランザクション QC01) の証明書プロファイルは、送信される品質証明書に含まれるデータを定義します。
許可される特性カテゴリは次のとおりです。
* マスター検査特性 (A): MIC (トランザクション QS21) は検査計画や材料仕様で使用され、その結果は証明書プロファイルに含められ、品質データ (測定値など) を報告できます。
* クラス特性 (B): クラス特性 (分類システム、トランザクション CT04 から) はバッチまたは材料にリンクされており、証明書プロファイルに含めて分類データ (例:
例: バッチプロパティ)。
* 検査特性 (C): この用語は検査ロット/計画の特性を指しますが、明確なカテゴリではありません。MIC でカバーされているため、個別に選択することはできません。
* プロセス指示特性 (D): プロセス産業 (PI) で生産に使用されますが、標準 SAP の QM 証明書プロファイルには適用されません。
したがって、「マスター検査特性」と「クラス特性」が正解です。参照: SAP ヘルプポータル - 「品質証明書 - 証明書プロファイル」、SAP S/4HANA QM ユーザーガイド - 「送信証明書」。