[2025-07-29更新,349問] 無料Huawei H31-341_V2.5-ENU試験問題集、H31-341_V2.5-ENU試験勉強書(ページ 53)

遅延テストに関する次の記述のうち、間違っているものはどれですか?

A. タイミングはデータフレームの最初のビットの入力から始まり、データフレームの最初のビットが出力端子Pに表示されたときに終了します。2つの間の時間差は、ビット転送デバイスの遅延です。

B. 遅延テスト中、フレームレートがスループットよりも高くなる可能性があります。

C. 遅延は、ストアアンドフォワードデバイスの遅延とビットフォワードデバイスの遅延に分けられます。Huaweiデバイスはすべてストアアンドフォワードデバイスです。

D. タイミングはデータフレームの最初のビットの入力から始まり、データフレームの最初のビットが出力端子Pに表示されたときに終了します。2つの間の時間差は、ビット転送デバイスの遅延です。

光パワーコミッショニングに関する次の説明のうち、間違っているものはどれですか。

A. 光パワーが高すぎると非線形効果が生じ、ファイバーに入る光パワーが低いほど非線形効果は小さくなります。

B. 受信端における単一波長の光パワーは、総パワーに基づいて計算され、正確な値が得られる。

C. 光パワー平坦性が屈折率要件を満たすことを保証する必要がある場合、信号対雑音比平坦性を保証するために光パワー平坦性を犠牲にすることができる。

D. 試運転プロセス中は、入力光パワーが過剰であることによるボードとスペクトルアナライザの損傷を回避するために、スペクトルアナライザと OTU ボードの範囲に注意する必要があります。

シングルモードファイバーの低損失領域は次のどれですか? (複数選択)

A. 1550nm

B. 1310nm

C. 1200nm

D. 900nm

STP 機器と同様に、NG WDM 機器は事前設定を通じてネットワーク管理システム上でネットワーク要素の設定を実行できます。

A. 偽

B. 真

OTN回路基板の性能指標は、入力光パワーとビットエラー率に重点を置いています。異常な光パワーはビットエラーを引き起こす可能性があります。入力光パワーが高すぎる場合は、INポートに光減衰を追加することができます。

A. 真

B. 偽

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